激光剪切散斑干涉仪（Shearography）

激光剪切散斑无损检测仪

激光剪切散斑干涉（Shearography）是运用光学、计算机、数字图像处理等现代技术发展起来的光学全场无损检测技术，具有全场、非接触、高精度和实时快速等优点，可广泛应用于金属和复合材料的全场应变、变形和缺陷的无损检测。

其基本原理是基于物体结构缺陷处的在载荷的作用下产生非均匀的表面位移或变形，在缺陷位置会出现明显的干涉条纹异状（如不连续、突变的形状变化和间距变化等）；通过测算这些微小的条纹变化，便可检测出物体变形和内部缺陷及其位置。

激光散斑无损检测仪特别适用于复合材料的分层、脱粘、裂纹、空隙、冲击损伤、破坏的部位的缺陷检测。与常规无损检测手段等相比，测量灵敏度高，达到激光波长级别；能进行非接触全场检测，检测效率高；可实时处理。

特点优势（与国内外同类产品相比）：

（1）系统采用空间相移技术和新型4f结构，可实现动态、广角大视场测量；

（2）采用二次散射光路实现了光滑表面无损检测，克服了传统激光散斑干涉技术只能测粗糙表面的不足；

（3）采用双向散斑干涉光路，实现了快速多方向缺陷损检测，克服了传统激光剪切散斑干涉技术可能漏测的不足。

（4）系统测量频率和测量范围等关键指标达到国际先进水平。

激光剪切散斑无损检测仪